Привет, Хабр! Меня зовут Максим, я студент РТУ МИРЭА. Это продолжение статьи «Мелкие дефекты теряются, а метрика молчит» . В ней я сравнивал Mask R-CNN и YOLO на 1812 производственных снимках с повреждениями автомобилей и закончил на тайлинге: если снимок резать на куски, мелкие объекты не будут…