Мелкие дефекты теряются, а метрика молчит: систематическое сравнение Mask R-CNN и YOLO на 1812 производственных снимках

Привет, Хабр! Меня зовут Максим, я студент РТУ МИРЭА, и хочу поделиться темой, которая меня давно зацепила. Рано или поздно на это натыкается каждый, кто делает визуальный контроль на своих данных. Модель уверенно находит крупные детали, средняя метрика выглядит вполне достойно, а мелкие дефекты…